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北京市人民检察院二分院一行来到我院考察科技强检工作

时间：2017-10-12　　作者：　　新闻来源：【字号：大 | 中 | 小】

10月12日，北京市人民检察院二分院技术处吴铭处长一行，来到我院考察科技强检工作。通过实地参观、座谈，对本院融合创新科技，打造智慧检务取得的成绩表示赞赏。

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